Testeur de vieillissement de puces CFT1000
Le test de vieillissement est une évaluation critique de la stabilité opérationnelle d'une puce dans des conditions de températures extrêmes. En exposant la puce à des environnements prolongés à haute ou basse température et en surveillant ses performances, le testeur de vieillissement de puces CFT1000 évalue efficacement la fiabilité et la stabilité du dispositif.
- HC
- CHINE
- 1 MOIS
- 3000/MOIS
- information
Le Testeur de vieillissement de puces CFT1000 effectue des tests de vieillissement complets en se connectant à l'appareil testé (DUT) via des câbles et des fixations haute température. Après la mise sous tension, Testeur de vieillissement de puces CFT1000 surveille en continu plusieurs paramètres de performance du DUT dans des conditions de température extrêmes, notamment la tension, le courant, la fréquence, la température, la lecture/écriture de la mémoire et les fonctions de communication, pour déterminer si la puce répond aux normes de qualification.
Le Testeur de vieillissement de puces CFT1000 est idéal pour les tests de rodage des puces d'horloge RTC et autres dispositifs semi-conducteurs, prenant en charge jusqu'à 480 DUT en un seul cycle de test. Testeur de vieillissement de puces CFT1000 peut mesurer des signaux critiques tels que la tension, le courant, la fréquence et la température, avec une large plage de température -55℃ à 155℃. La communication avec le DUT s'effectue via I2C, SPI ou RS485 interfaces, tandis que le Testeur de vieillissement de puces CFT1000 se connecte à un PC hôte via USB/Ethernet. De plus, le Testeur de vieillissement de puces CFT1000 dispose d'une alimentation à double canal intégrée pour des configurations de test flexibles.
Logiciels conviviaux et automatisation
Le logiciel Chip Aging Tester CFT1000 prend en charge les modes de test manuel et automatisé. En mode automatisé, les utilisateurs peuvent importer des fichiers de script de test pour configurer automatiquement les paramètres. Après avoir cliqué sur le bouton « "Execute" », l'icône Testeur de vieillissement de puces CFT1000 Exécute la séquence de tests en mode simple ou en boucle. Toutes les données et tous les résultats des tests sont automatiquement enregistrés dans un rapport informatique pour une analyse plus approfondie.
Configuration et fonctionnement des tests
Le DUT est placé sur le support du dispositif de test, tandis que le dispositif et le DUT sont logés à l'intérieur d'une chambre thermique.
Le Testeur de vieillissement de puces CFT1000 et le PC restent à l'extérieur de la chambre, connectés via des câbles haute température (pour le signal/l'alimentation) et USB (pour la communication de données).
Pour commencer les tests :
Branchez l'alimentation secteur et allumez le Testeur de vieillissement de puce CFT1000.
Lancer le Testeur de vieillissement de puces CFT1000 interface logicielle.
Démarrez le processus de test en un seul clic.
Résumé des principales caractéristiques
Tests à haut débit : Prend en charge 480 DUT simultanément.
Large plage de température : -55℃ à 155℃ pour la simulation d'environnement extrême.
Prise en charge multi-interfacesrt:I2C, SPI, RS485 pour une communication DUT flexible.
Rapports automatisés : Génère des journaux de test et des rapports en temps réel.
Le Testeur de vieillissement de puces CFT1000 assure une validation efficace et précise de la fiabilité des semi-conducteurs, ce qui en fait un outil essentiel pour la production de circuits intégrés et l'assurance qualité.
